EN 61580-2-1996 波导测量方法.第2部分:交叉调制水准面
时间:2024-05-21 20:40:49 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8043
【英文标准名称】:Methodsofmeasurementforwaveguides-Part2:Levelofintermodulationproducts(IEC61580-2:1996);GermanversionEN61580-2:1996
【原文标准名称】:波导测量方法.第2部分:交叉调制水准面
【标准号】:EN61580-2-1996
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1997-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:水准仪;测量;测量技术;互相调制;电气工程;电缆;规范(验收);导电体;波导管
【英文主题词】:Cables;Electricconductors;Electricalengineering;Intermodulation;Levels;Measurement;Measuringtechniques;Specification(approval);Waveguides
【摘要】:
【中国标准分类号】:L26
【国际标准分类号】:33_120_10
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Plastics.Amineepoxidehardeners.Determinationofprimary,secondaryandtertiaryaminegroupnitrogencontent
【原文标准名称】:塑料制品.环氧氨硬化剂.对第1、2、3氨组含氮量的测定
【标准号】:BSISO9702-1997
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1997-04-15
【实施或试行日期】:
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:塑料;方程;促凝剂;热固性聚合物;氮;胺(芳族);再现性;化学分析和试验;胺(脂族);电位测量法;环氧树脂;含量测定
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:G33
【国际标准分类号】:83_040_30
【页数】:14P;A4
【正文语种】:英语
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part37:Boardleveldroptestmethodusinganaccelerometer
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第37部分:用加速计的电路板级落锤试验方法
【标准号】:IEC60749-37-2008
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2008-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:加速计;应用;壳体;气候的;气候试验;部件;定义;跌落试验;电气工程;电子的;电子设备及元件;失败分析;失败标准;仪器;力学;机械测试;印制电路板;半导体器件;半导体;测试
【英文主题词】:Accelerationmeasuringinstruments;Accelerometers;Applications;Bodies;Climatic;Climatictests;Components;Definitions;Design;Droptests;Electricalengineering;Electronic;Electronicequipmentandcomponents;Failureanalysis;Failurecriterion;Instruments;Mechanic;Mechanicaltesting;Printed-circuitboards;Semiconductordevices;Semiconductors;Standardizations;Testing
【摘要】:ThispartofIEC60749providesatestmethodthatisintendedtoevaluateandcomparedropperformanceofsurfacemountelectroniccomponentsforhandheldelectronicproductapplicationsinanacceleratedtestenvironment,whereexcessiveflexureofacircuitboardcausesproductfailure.Thepurposeistostandardizethetestboardandtestmethodologytoprovideareproducibleassessmentofthedroptestperformanceofsurface-mountedcomponentswhileproducingthesamefailuremodesnormallyobservedduringproductleveltest.Thepurposeofthisstandardistoprescribeastandardizedtestmethodandreportingprocedure.Thisisnotacomponentqualificationtestandisnotmeanttoreplaceanysystemleveldroptestthatmaybeneededtoqualifyaspecifichandheldelectronicproduct.ThestandardisnotmeanttocoverthedroptestrequiredtosimulateshippingandhandlingrelatedshockofelectroniccomponentsorPCBassemblies.TheserequirementsarealreadyaddressedintestmethodssuchasIEC60749-10.Themethodisapplicabletobothareaarrayandperimeter-leadedsurfacemountedpackages.Thistestmethodusesanaccelerometertomeasurethemechanicalshockdurationandmagnitudeappliedwhichisproportionaltothestressonagivencomponentmountedonastandardboard.ThetestmethoddescribedinthefutureIEC60749-401usesstraingaugetomeasurethestrainandstrainrateofaboardinthevicinityofacomponent.Thedetailedspecificationstateswhichtestmethodistobeused.
【中国标准分类号】:L30
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:39P;A4
【正文语种】:英语